製品情報


NX1032XS

特長

NX1032XS

1時間あたり最大20,000個のロジックICを搬送・検査・分類が可能

ロジックICテストハンドラーで32個同時測定を実現

半導体の搬送において、高速かつ低振動を両立した俊敏な動作を実現

*エプソン独自のロボット制御技術「スマートモーションコントロール」を用いています。

NX1032XS主な仕様

  NX1032XS
16-site 32-site
対象デバイス QFP, TSOP, CSP, WLCSP, BGA, QFN, PLCC, LGA, PGA, 
最小3×3~最大50×50 (リードピッチ0.4mm以上)*1
測定モード - 32個測定(8×4)
16個測定(8×2)
 8個測定(4×2)
 4個測定(2×2)
 4個測定(4×1)
 2個測定(2×1)
 1個測定
測定エリア 344mm x 146mm  344mm x 244mm 
標準ソケットピッチ(mm) X:40 Y:60 
加熱方式 ヒートプレス方式
インデックスタイム 約0.42秒(ワイド4×2、8×2レイアウト)*2
約2.21秒 (4,800N)*2
約2.05秒(8×4レイアウト)*2
約4.35秒 (4,800N)*2
最短0.38秒~
最大スループット(個/時) 20,000(常温), 10,500(高温)
トレイ分類数 最大6分類 (オート 3, マニュアル 3)
トレイ JEDEC (135.9x315.0) mm
ホットプレートサイズ 220x380mm
最大加圧力 4,800N
温度精度 +50℃~+90℃  ±2℃
+90℃~+155℃  ±3℃
電源 単相 AC 200~240 V 50/60Hz 6kVA
装置サイズ(mm) 1,940 (W) × 1,580 (D) × 2,000 (H)*3
総重量 1,200kg