製品情報


NS8000シリーズ

NS8160MS, NS8080MS, NS8080SH

高スループットと多彩なオプション対応で多くのお客さまに採用いただいていた「NS8000シリーズ」から基本性能を大きく向上させた後継機種です。

特長

NS8000

高速UPH

  • 1時間当たりに搬送・検査・分類できる最大半導体個数は13,500個

高速で多ピン半導体を検査できる加圧力を標準搭載

  • 「NS8160MS」、「NS8080MS」の加圧力は標準2,400N。例えば、500ピンパッケージの半導体には、1ピン当たり30gfの圧力をかけ、1度に16個を搬送・検査・分類することが可能

高温度対応

  • 最高155℃での半導体検査が可能。ヒートプレス方式の採用により高温時のジャム復帰も容易

ワイドソケットピッチ対応

  • ソケットピッチを広くとれるレイアウトであるため、例えば特に半導体間のノイズ干渉を考慮する必要がある高周波(RF)デバイスの多数個検査も可能。

仕様表

  NS8160MS NS8080MS NS8080SH
対象デバイス QFP, TSOP, CSP, WLCSP, BGA, QFN, PLCC, LGA, PGA,
最小3×3~最大50×50 (リードピッチ0.4mm以上)*1
測定モード 16個測定(8x2) -
8個測定(4x2)
4個測定(2x2)
4個測定(4x1)
2個測定(2x1)
1個測定
測定エリア 264mm x 130mm  184mm x 130mm 
標準ソケットピッチ
(mm)
X:30 Y:60 X:40 Y:60
加熱方式 ヒートプレス方式
インデックスタイム 0.42秒 (~1,600N) *2 0.42秒 (~1,200N) *2
0.58秒 (~2,400N) *2 -
最大スループット
(個/時)
13,500
トレイ分類数 最大6分類 (オート 3,マニュアル 3)
トレイ JEDEC (135.9x315.0) mm
温度精度 +50℃~+90℃  ±2℃
+90℃~+155℃  ±3℃
最大定格電力 単相 AC 200~240V 50/60 Hz 6kVA
装置サイズ
(mm)
1,860 (W) x 1,500 (D) x 2,000 (H) *3
総重量 1,060Kg

NS-8040, NS-8080H, NS-8080, NS-8080W

特長

NS8000

高い安定性

  • 小型パッケージの安定したハンドリング
  • ジャム率 1/5,000

簡単操作+高いメンテナンス性

  • ビジュアルで分かり易い操作画面
  • 広い開口部によりメンテナンスとチェンジキット交換が容易

NS-6000シリーズ/NS-7000シリーズのチェンジキットが使用可能

仕様表

  NS-8040 NS-8080H NS-8080 NS-8080W
対象デバイス QFP, TSOP, CSP, WLCSP, BGA, QFN, PLCC, LGA, PGA,
最小3×3~最大50×50 (リードピッチ0.4mm以上)*1
測定モード 4個同時測定(2x2)
4個同時測定(4x1)
2個同時測定
1個測定
8個同時測定(4x2)
4個同時測定(2x2)
4個同時測定(4x1)
2個同時測定
1個測定
測定エリア 184mm x 130mm  260mm x 130mm
標準ソケットピッチ
(mm)
X:80 Y:60 X:40 Y:60 X:40 Y:60 / X:60 Y:60
加熱方式 ヒートプレス方式 チャンバー方式
インデックスタイム 0.39秒~ (常温、高温) *2 0.36秒~ (常温、高温)*2
最大スループット
(個/時)
8,000 8,300 8,300 8,200(オプション 2400N)
13,000(オプション:高UPHハンド)
トレイ分類数 最大6分類 (オート 3,マニュアル 3) 最大5分類 (オート 3, マニュアル 2)
トレイ JEDEC (135.9x315.0) mm
温度精度 +50℃~+90℃  ±2℃ *3
+90℃~+130℃  ±3℃ *3
最大定格電力 単相 AC 200~240V 50/60 Hz 6kVA
装置サイズ
(mm)
1,700 (W) x 1,500 (D) x 1,760 (H) *4 1,860(W) x 1,500(D) x 1,760(H) *4
総重量 約920Kg 約960Kg 約1,020Kg

16個同時測定ICテストハンドラー NS-8160Wシリーズ

特長

NS-8000シリーズの基本性能はそのままに、16個同時測定が可能なワイドタイプ

フラッシュマイコン等、混載ICの検査に最適

NS-8160シリーズ 仕様表

NS-8160W
対象デバイス QFP, TSOP, CSP, WLCSP, BGA, QFN, PLCC, LGA, PGA, 
最小3×3~最大50×50 (リードピッチ0.4mm以上) *1
測定モード 16個同時測定(8×2)
 8個同時測定(4×2)
 4個同時測定(2×2)
 4個同時測定(4×1)
 2個同時測定(2×1)
 1個測定
測定エリア 260mm x 130mm 
標準ソケットピッチ(mm) X:30 Y:60 (16個測時)
加熱方式 チャンバー方式
インデックスタイム 0.40秒~ (常温、高温) *2
最大スループット(個/時) 8300
13,000(オプション)
トレイ分類数 最大5分類 (オート 3, マニュアル 2)
トレイ JEDEC (135.9x315.0) mm
ホットプレートサイズ 160x340mm 2枚 (標準) または
220x380mm 2枚 (オプション)
最大加圧力 850N(標準)または2,400N(オプション)
温度精度 +50℃~+90℃  ±2℃
+90℃~+130℃  ±3℃
電源 単相 AC 200~240 V 50/60Hz 6kVA
装置サイズ(mm) 1860 (W) × 1500 (D) × 1760 (H) *3
総重量 約 1,040 kg