品質情報

品質システムの認証

エプソンはいち早く全社的ISO9000取得活動に取り組みました。電子デバイス事業セグメント:半導体事業はIC製品、カード製品/モジュール製品およびその応用製品についてISO9001およびISO/TS16949の認証を取得しています。

ISO9001

認証の種類 ISO9001: 2008 , JIS Q 9001: 2008
認証された事業所/工場 半導体事業 富士見事業所,日野事業所,諏訪南事業所、東北エプソン株式会社
認証登録機関 Bureau Veritas Japan Co., Ltd.
登録書No. 3762381/A
初回認証年月日 1993年10月10日
認証有効期限 2018年9月14日
ISO9001認証書 ISO9001認証書(酒田・富士見・日野・諏訪南)PDF (863KB)
認証の種類 ISO9001: 2008
認証された事業所/工場 Singapore Epson Industrial Pte. Ltd.
認証登録機関 SGS
登録書No. SG03/00011
認証年月日 2003年2月4日
認証有効期限 2018年9月15日
ISO9001認証書 ISO9001認証書(SEP)PDF (787KB)

ISO/TS16949

認証の種類 ISO/TS16949:2009 -Third Edition
認証された事業所/工場 東北エプソン株式会社、セイコーエプソン株式会社 (富士見事業所, 日野事業所, 諏訪南事業所)、EPSON EUROPE ELECTRONICS GmbH
認証登録機関 Bureau Veritas Certification Holding
登録書No. 199476
初回認証年月日 2006年5月9日
認証有効期限 2017年12月18日
ISO9001認証書 ISO/TS16949認証書(酒田)PDF (612KB)
認証の種類 ISO/TS16949:2009
認証された事業所/工場 Singapore Epson Industrial Pte. Ltd.
認証登録機関 SGS
登録書No. SG07/00021
認証年月日 2007年6月7日
認証有効期限 2018年9月14日
ISO9001認証書 ISO/TS16949認証書(SEP)PDF (1,945KB)

※上記PDFファイルのコピー(印刷したものを含む)を取得された方は、有効期限が切れましたら適切に破棄してください。

ISO9001

ISO9001とは:
品質システムに関する国際規格。 お客さまの立場から製造(メーカ)に対する要求を規定しています。

ISO/TS16949とは:
ISO9001に追加して、品質システムに関する自動車産業固有の要求事項を表した国際規格です。

品質保証ガイドブック

エプソン半導体製品 品質保証ガイドブック(905KB) PDF

製品信頼性への取り組み

デバイス使用用途・使用環境や製品の新規性・重要度により、評価項目・試料項目を定め、信頼性評価を実施致します。
また、製品形態により「環境試験」「機械的試験」を実施致します。多様化する製品形態に対応するため、製品の特異性を配慮し、個別に評価条件を定めています。

評価項目選定にあたってのキーテクノロジー

代表試験項目(例)

試験項目 試験方法 試験条件 参考規格
温度サイクル -65℃~150℃ 200サイクル
  • JEITA ED-4701/100A
  • JEDEC JESD22-A104
高温バイアス 125℃ / Vdd-max 1000h
  • JEITA ED-4701/100A
  • JEDEC JESD22-A108
高温高湿バイアス 85℃ / 85%RH 1000h
  • JEITA ED-4701/100A
  • JEDEC JESD22-A101
高温保存 150℃ 1000h
  • JEITA ED-4701/200A
  • JEDEC JESD22-A103
低温保存 -65℃ 1000h
  • JEITA ED-4701/200A
プレッシャークッカ 121℃ / 2.0E5Pa 200h
  • JEITA ED-4701/100A
  • JEDEC JESD22-A102
はんだ耐熱性 加湿処理 → リフロー 3 Time
  • JEITA ED-4701/301
  • J-STD-020D.01
耐溶剤性*1 イソプロピルアルコール 1 Time
  • JEITA ED-4701/500A

※ 評価項目例示であり、製品形態により「機械」「寿命」試験を行ないます。

*1 : インクマーク品のみ該当

機械的試験項目 (例)

試験項目 試験方法 試験条件 参考規格
端子強度(引っ張り) 2.5N,10秒 1 Time
  • JEITA ED-4701/400A
  • JEDEC JESD22-B105
端子強度(曲げ) 90°折り曲げ 2 Time
  • JEITA ED-4701/400A
  • JEDEC JESD22-B105
はんだ付け性1 スチームエージング → はんだ浸漬 4h → 245℃, 5秒間
  • JEITA ED-4701/301
  • JEDEC JESD22-B102
はんだ付け性2 ベーク → はんだ浸漬 150℃, 16h → 245℃, 5秒間
  • JEITA ED-4701/301
  • JEDEC JESD22-B102

静電気耐性評価方法

半導体製品の微細化が進むにつれ、静電気放電(ESD:Electrostatic-Discharge)による損傷が顕在化しています。弊社では、公的規格による静電気耐性評価を行ない、製品の認定を行ないます。

評価回路にて、コンデンサ放電試験を行ない、耐静電気性を評価します。

  1. コンデンサ[C]を十分に充電した後、スイッチ[SW]を切り替えてICにコンデンサ電荷を放電します。
  2. 放電後、ICの電気的特性およびファンクションを判定します。
  3. ICに異常がなければ、更に印加電圧をステップ電圧で上昇させてコンデンサ放電を行ないます。

ICが不良と判定されるまで 1. ~3. を繰り返し、破壊電圧を測定結果とします。